HAST（Highly Accelerated Stress Test）非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種專為電子器件、半導(dǎo)體封裝、磁性材料等高可靠性產(chǎn)品設(shè)計(jì)的環(huán)境模擬設(shè)備。它通過在密閉箱體內(nèi)同步施加高溫、高濕和高壓等極端條件，使樣品在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷相當(dāng)于數(shù)千甚至上萬小時(shí)的實(shí)際使用環(huán)境，從而快速評(píng)估其密封性、耐壓性和壽命可靠性。

工作原理基于阿倫尼烏斯模型：提升環(huán)境應(yīng)力（溫度、濕度、壓力）可指數(shù)級(jí)加速材料的化學(xué)和物理老化過程。箱體內(nèi)部設(shè)有獨(dú)立的蒸汽發(fā)生室和加熱回路，避免蒸汽直接沖擊樣品，保證溫濕度分布均勻；雙閥結(jié)構(gòu)的進(jìn)口電磁閥提升可靠性并降低故障率。此外，箱體配備電子門鎖、滑動(dòng)托盤和多路安全保護(hù)（過溫、過壓、泄壓閥等），確保操作安全且易于維護(hù)。
主要技術(shù)參數(shù)包括：溫度范圍105?℃–147?℃，溫度波動(dòng)≤±0.5?℃；濕度范圍65%–100%RH，波動(dòng)≤±2.5%RH；壓力范圍0.2–2?kg/cm2；升溫時(shí)間約50?min，升壓時(shí)間約40?min，支持連續(xù)或循環(huán)測(cè)試模式。設(shè)備符合JESD22?A102E、IEC60068?2?66等國際標(biāo)準(zhǔn)，能夠滿足半導(dǎo)體、光伏、汽車電子、軍工等行業(yè)的可靠性驗(yàn)證需求。