?HAST（Highly Accelerated Stress Test）非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱是一種專為模擬產(chǎn)品在高溫?高濕?高壓極端環(huán)境下的長(zhǎng)期使用狀態(tài)而設(shè)計(jì)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。它通過(guò)在密閉容器內(nèi)產(chǎn)生不飽和蒸汽（相對(duì)濕度≤85%），并在0.2–2.0?kg/cm2的壓力下，對(duì)樣品進(jìn)行加速老化，從而在數(shù)百小時(shí)內(nèi)完成傳統(tǒng)85??℃/85?%RH?1000?h壽命試驗(yàn)的等效驗(yàn)證。

一、主要技術(shù)參數(shù)

1. 溫度范圍：105?℃?-?147??℃，溫度波動(dòng)≤±0.5?℃；

2. 濕度范圍：65?%?-?100?%RH，波動(dòng)≤±2.5?%RH；

3. 壓力范圍：0.2?-?2.0?kg/cm2；

4. 升溫時(shí)間約50?min，升壓時(shí)間約40?min；

二、核心優(yōu)勢(shì)

1. 高可靠性：進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路設(shè)計(jì)、獨(dú)立蒸汽發(fā)生室以及多重安全保護(hù)（壓力安全閥、過(guò)壓、過(guò)熱保護(hù)），顯著降低故障率并保證試驗(yàn)安全。

2. 精準(zhǔn)可控：觸摸屏配合高精度控制系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)溫度、濕度、壓力的實(shí)時(shí)閉環(huán)調(diào)節(jié)，支持一鍵電子門(mén)鎖、滑動(dòng)托盤(pán)等人性化操作。

3. 廣泛適用：適用于半導(dǎo)體芯片、IC封裝、液晶顯示、LED、磁性材料、稀土永磁體、航空航天材料以及電子元器件的密封性、耐壓性和壽命評(píng)估。

4. 加速效能：在高壓蒸汽環(huán)境下，水分滲透速率大幅提升，可在數(shù)十至數(shù)百小時(shí)內(nèi)完成相當(dāng)于數(shù)千小時(shí)常規(guī)濕熱老化的加速測(cè)試，顯著縮短研發(fā)周期。

三、典型應(yīng)用案例

1. 半導(dǎo)體行業(yè)：對(duì)封裝IC進(jìn)行非飽和蒸汽偏壓壽命測(cè)試，符合JESD22?A102E、A110E等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)；

2. 新材料研發(fā)：評(píng)估稀土永磁體在高溫高濕高壓條件下的磁性能衰減；

3. 電子產(chǎn)品可靠性：檢測(cè)多層線路板、LED燈具的防潮防壓性能，確保出貨前的質(zhì)量合格率。