?在電子封裝、半導體和電路板等可靠性測試中，HAST（Highly Accelerated Stress Test）與PCT（Pressure Cooker Test）是兩類常用的高壓加速老化試驗箱。雖然都在高溫、高濕、高壓環(huán)境下加速老化，但二者在原理、工況、測試速度和適用范圍上存在顯著差異。

1. 工作原理
PCT 屬于飽和型試驗箱，內(nèi)部溫度、濕度和壓力同步升降，濕度始終保持 100%?RH，形成飽和蒸汽環(huán)境，主要用于評估產(chǎn)品在極端密封條件下的耐腐蝕性。而 HAST 為非飽和型，溫度、濕度（70%~100%?RH）和壓力均可獨立調(diào)節(jié)，能夠?qū)崿F(xiàn)高溫、高濕、高壓或高低溫循環(huán)等多種工況，測試更為靈活。

2. 工況參數(shù)
PCT 的典型溫度范圍在 110?℃~130?℃，壓力約 2?atm，濕度接近 100%?RH。HAST 的溫度上限可達 150?℃ 以上，壓力相對較低（0.5~2?kg/cm2），濕度可在 85%~100%?RH 之間調(diào)節(jié)。因此 HAST 能在更寬的溫濕度區(qū)間內(nèi)模擬不同使用環(huán)境。

3. 測試速度與周期
由于 PCT 條件相對溫和，老化過程需要數(shù)百至數(shù)千小時才能顯現(xiàn)失效模式。HAST 采用更嚴苛的應力組合，能夠在幾十至幾百小時內(nèi)快速暴露潛在缺陷，顯著縮短測試周期。

4. 適用范圍
PCT 主要用于檢測產(chǎn)品的密封性能和耐濕熱性能，常見于電子元件、PCB、半導體封裝等需要驗證防潮防壓的場景。HAST 則因其工況可調(diào)、測試模式多樣，被稱為“全能型”老化設備，除上述領域外，還廣泛用于高可靠性電子系統(tǒng)、磁性材料、光伏組件等更廣泛的可靠性評估。

5. 設備結構與安全
PCT 采用圓形壓力容器和飽和蒸汽設計，配備超溫、超壓、缺水等多重安全保護。HAST 在控制系統(tǒng)上更為先進，具備觸摸屏、數(shù)據(jù)導出、二段式壓力保護等功能，能夠?qū)崿F(xiàn)長時間穩(wěn)定運行并提供更細致的實驗記錄。

綜上所述，PCT 與 HAST 在試驗原理、工況參數(shù)、加速程度、應用領域以及設備特性上各有側重。選型時應根據(jù)被測產(chǎn)品的可靠性需求、測試時間要求以及預算等因素綜合考慮，確保選用的試驗箱能夠最有效地揭示產(chǎn)品在實際使用環(huán)境中的潛在失效機制。